更新時(shí)間:2024-06-18
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廠商性質(zhì):代理商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾廠家
菲希爾廠家
Dualscope mpor渦流法
測量探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生高頻主磁場,在基底材料中產(chǎn)生渦流。由此產(chǎn)生的二次磁場削弱了一次磁場。該效應(yīng)是測量探針和基材之間的距離(涂層厚度),并使用存儲(chǔ)在儀器中的探針特性將其轉(zhuǎn)換為涂層厚度值。
菲希爾mpor應(yīng)用
•在有色金屬(如鋁或不銹鋼)上涂清漆或塑料涂層
•鋁上的陽極氧化涂層
Fischer mpor放置支架的V型槽允許對(duì)圓柱形零件進(jìn)行簡單可靠的測量
fischer mpor磁感應(yīng)法
dualscope mpor測量探頭中的激勵(lì)電流產(chǎn)生低頻磁場,該磁場由與待測量涂層厚度對(duì)應(yīng)的磁性基板材料放大。
菲希爾mpor使用存儲(chǔ)在儀器中的探針特性,將記錄該放大的測量線圈信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂層厚度值。
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磁性測厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高。
渦流測厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低。
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